株式会社アイテス

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COMPANY PROFILE / 企業紹介

企業紹介|電子部品・実装基板・材料の故障解析、信頼性試験、分析・評価の受託(ほか、太陽光パネル検査装置の開発・販売、電子機器の修理、ウェハー加工)

株式会社アイテス

電子部品や実装基板の故障解析・信頼性試験・分析を請ける、滋賀県大津市の会社

信頼性試験・環境試験故障解析・構造解析断面研磨・加工観察・分析表面・材料・異物・汚染分析:滋賀県

公式サイトなどの公開情報をもとに編集部が作成 情報の確認日:2026年10月9日

温度加速試験槽と、In-Situ常時測定のモニターユニットが並ぶ
温度加速試験槽と、In-Situ常時測定のモニターユニットが並ぶ(出典:アイテス「アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測」)
積層セラミックコンデンサの直交CT像。内部のクラックを赤い矢印で示す
積層セラミックコンデンサの直交CT像。内部のクラックを赤い矢印で示す(出典:アイテス「MLCCクラック X線観察」)
半導体パッケージの異常部の断面SEM像。封止樹脂とリードフレームの間の剥離を示す
半導体パッケージの異常部の断面SEM像。封止樹脂とリードフレームの間の剥離を示す(出典:アイテス「はんだ耐熱性試験(SMD)」)
1993年設立
100名従業員数
18.6億円売上
3拠点本社・熊本事業所・栗東事業所分室

OVERVIEW

アイテスとは

電子部品や実装基板の故障解析・信頼性試験・分析を請ける、滋賀県大津市の会社

アイテスは、滋賀県大津市に本社を置く、電子部品や実装基板の解析・信頼性評価の会社です。1993年に、日本IBM野洲事業所の品質保証部門を母体として設立されました。故障解析、断面研磨・観察、表面・異物・材料の分析、信頼性試験、X線CTなどの非破壊観察を受託しています。ほかに、太陽光パネルの検査装置の開発・販売、産業機器の修理、ウェハー加工も手がけています。

同社の品質技術サービスは、半導体をはじめ、あらゆる「ものづくり」業界のお客様に、分析・解析・信頼性試験で支援するとしています。同社は、信頼性試験から断面観察・分析まで一貫して受託できるとしています。他社で断られた案件もまず相談してほしいとしています。

積層セラミックコンデンサの直交CT像。内部のクラックを赤い矢印で示す
積層セラミックコンデンサの直交CT像。内部のクラックを赤い矢印で示す(出典:アイテス「MLCCクラック X線観察」)

こんな相談に向いています

加速試験の結果を、使用温度での寿命に換算したい

複数の温度(T1〜T3)で信頼性試験を行い、接合抵抗などをその場で連続して測る(In-Situ常時測定)。

温度サイクル試験のあとのはんだ接合部を、観察して確かめたい

温度サイクル試験の初期と実施後で、はんだ接合部の変化(クラックの発生など)を観察する。

BGAやコンデンサの下のクラック・ボイドを、X線・CTで見たい

X線透視・CTで、外観から見えない内部の状態を確認する。

壊れた部品の、故障の場所と原因を絞り込みたい

発熱解析で故障の場所を絞り込み、X線透過観察、CP(クロスセクションポリッシャー)断面のSEM観察と元素分析へ進める。

出典:会社概要|アイテス、品質技術サービス TOP|アイテス、会社・事業の沿革|アイテス、事業所案内|アイテス

SERVICES

技術・サービス

アイテスの品質技術サービスのメニューは、故障解析・構造解析、断面研磨・加工観察・分析、表面・材料・異物・汚染分析、信頼性試験・評価の4つの柱です。信頼性試験・評価は、信頼性試験/環境試験、製品評価・測定、非破壊観察に分かれています。編集部では、読者が依頼する内容に沿って6つにまとめました。

CASES

実績(公開されている事例)

アイテスが公式サイトで公開している事例から、編集部が9件を選びました。詳しい内容は各事例のページでご覧ください。

基板に載った2つの積層セラミックコンデンサの実体顕微鏡写真

X線・CTコンデンサ非破壊

MLCC(積層セラミックコンデンサ)のクラックをX線で観察

基板を反らせてクラックを発生させたコンデンサを、X線透視・斜めCT・直交CTで観察した例。外観では確認できなかったクラックを、X線では確認できたとしている。

出典:アイテス「MLCCクラック X線観察」

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チップ抵抗の断面SEM像と元素マッピング。保護膜と抵抗体が溶けている

故障解析断面観察抵抗

チップ抵抗の故障解析

研磨台の動作不良の原因調査で、基板のチップ抵抗に異常が見つかった例。表面観察、機械研磨による断面作製、SEM/EDX で、保護膜や抵抗体が溶融していることを確認し、サージか過負荷による発熱を疑っている。

出典:アイテス「チップ抵抗の故障解析例」

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全固体電池のX線透過像。発熱が途切れていた位置に白い線が見える

故障解析電池X線

酸化物系全固体電池の故障解析

充放電試験で劣化した酸化物系全固体電池を、発熱解析で故障箇所を絞り込み、X線透過観察とCP断面のSEM観察へ進めた例。集電体と正(負)極層の間などの層剥離を確認し、膨張と収縮の繰り返しが原因と推測している。

出典:アイテス「酸化物系全固体電池の故障解析事例」

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In-Situ 測定による抵抗値の時間変化のグラフ

信頼性試験In-Situ絶縁劣化

イオンマイグレーション試験と常時測定

恒温恒湿の環境で直流電圧を加え、In-Situ 常時測定で絶縁抵抗を測り続ける試験。時系列で測るので、リークタッチなどの一時的な不良も捉えられるとしている。不良部は光学顕微鏡・SEM・EDX で観察・同定する。

出典:アイテス「イオンマイグレーション試験」

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SiC 基板の裏面から OBIRCH と発光解析を行う装置の構成図

半導体故障解析パワー半導体

SiC MOSFETの故障箇所をOBIRCH・発光で特定

SiC MOSFET の裏面から、532nm のレーザーによる OBIRCH 解析と、SI-CCD カメラによる発光解析で故障箇所を特定し、そこへ FIB 加工と観察を進める流れを紹介している。

出典:アイテス「パワー半導体の解析サービス」

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表面実装型の白色LEDの拡大写真

X線・CTLED通電試験

表面実装LEDが過負荷で壊れる様子をX線透視で観察

表面実装のLEDに通電し、電圧と電流を定格値から徐々に上げて不点灯になるまでを、X線透視で撮影した例。損傷する過程を動画で紹介している。

出典:アイテス「表面実装LED」

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半導体パッケージの超音波顕微鏡像。異常(左)と正常(右)を比べる

信頼性試験超音波顕微鏡はんだ

はんだ耐熱性試験後の半導体パッケージの剥離観察

表面実装部品が吸った湿気を加湿で再現し、はんだ付け時の熱にあたる加熱をして、剥離やクラックを評価する試験の観察例。超音波顕微鏡で剥離部を見つけ、断面SEMで確認している。

出典:アイテス「はんだ耐熱性試験(SMD)」

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出典:アイテスの公式サイトの事例ページ(各カードのリンク先)。写真は各ページから引用しています。

FACILITIES & RESULTS

設備と主な数字

実績は、公式サイトの各サービスのページに、解析・評価の事例として公開されています。故障解析、断面観察、表面分析、X線観察、信頼性試験などに分かれ、調べた試料、使った手法、わかったことが書かれています。同社は「人気サービス」として、パワー半導体の解析、sMIM による拡散層の解析、表面実装部品の断面研磨、ウィスカ観察、有機材料の信頼性試験、In-Situ 常時測定、材料変色の原因解明、PET の分解・劣化の解析を挙げています。

この中から、種類が偏らないように9件を選んでカードにしました。各事例ページには依頼元の企業名は書かれておらず、依頼元の業種や件数もページからは分かりません。

設備主な仕様・用途
X線透視・CT装置YXLON 製マルチフォーカス Cheetah EVO。2019年8月に導入。リフローシミュレーターの機能を付属
超音波顕微鏡Sonoscan 社製 D9600。2014年3月から観察サービスを開始
パワーサイクル試験装置メンターグラフィック社製。2018年8月に試験サービスを開始
透過型電子顕微鏡(TEM)FEI 製 Talos F200E。2025年12月に分析解析サービスを開始
FIB-SEMThermo Fisher 製 Helios5 UC。2022年11月にサービスを開始
FT-IR・GC-MSFT-IR(Thermo Fisher 製 iN10MX。2024年2月導入)、GC-MS(島津製作所製 GCMS-QP2020NX。2019年4月に分析サービス開始)
デジタルマイクロスコープキーエンス製 VHX X1。2024年3月に導入
環境試験・熱衝撃液槽式冷熱衝撃試験装置(2004年導入)、温度勾配のつけられる温度サイクル試験機など。装置の全体は公式サイトの「装置一覧」(PDF)に掲載

上の数字の帯:1993年 設立(日本IBM野洲事業所の品質保証部門を母体)/100名 従業員数(契約社員を含む。2026年1月1日現在)/18.6億円 売上(2025年)/3拠点 本社(大津市)・熊本事業所・栗東事業所分室(デモセンター)

出典:故障解析・構造解析|アイテス、信頼性試験・評価|アイテス、品質技術サービス TOP(人気サービス)|アイテス、会社・事業の沿革(設備の導入)|アイテス、微小異物の分析|アイテス、リフローシミュレータ|アイテス、X線CT(附属機能)|アイテス、実装基板の各種評価|アイテス

COMPANY

会社概要

会社名株式会社 アイテス(ITES Co.,Ltd.)
設立平成5年(1993年)1月1日
代表取締役五十嵐 靖行
資本金3,000万円
所在地〒520-2151 滋賀県大津市栗林町1番60号 TEL 077-599-5015 FAX 077-544-7710
売上18.6億円(2025年)
従業員100名(契約社員を含む)(2026年1月1日現在)
法人株主日本生命保険相互会社
資格・認定ISO 9001:2015(登録番号 QC11J0032。電子機器検査装置・電子回路基板の設計・開発・製造、電子部品の評価分析サービス、解析修理サービス、半導体プロセス受託加工サービスが登録範囲)
事業内容解析・信頼性評価事業、検査装置開発事業(太陽光パネル検査・測定器の開発・販売)、電子機器修理事業、ウェハー加工事業、一般購買サービス
事業所熊本事業所(熊本市中央区南熊本3丁目14-3 くまもと大学連携インキュベータ内。2026年1月開設)/栗東事業所分室(デモセンター)(栗東市綣1丁目17-8-501 栗東シティビル5F)
分野計測・検査・分析

出典:会社概要|アイテス、事業所案内|アイテス、会社・事業の沿革|アイテス

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こんな課題で紹介しています

ものづくり技術百科では、次の記事でアイテスを紹介しています。記事の中の企業紹介に詳しい説明があります。

BEFORE CONTACT

問い合わせる前に整理しておくこと

依頼の前に、試料と試験の目的を整理しておくと、話が早く進みます。同社は、サンプルの状態を限定せず柔軟に対応するとしていて、問い合わせフォームから送ると、営業担当から3営業日以内に連絡するとしています。電話の受付時間は8:45〜17:30(土日祝を除く)です。なお、同社はフォームからのセールス・営業をお断りしています。

  • 調べたい試料(電子部品・実装基板・材料・フィルムなど)と、不具合の症状(動作しない、変色する、割れる、剥がれるなど)
  • 目的が原因の調査か、試験での評価か。評価なら、使用条件や求める寿命と、許せる故障の割合
  • 試験の条件(温度・湿度・電圧・サイクル数)と、従う規格(JIS・JEDEC・IPC など)があるか
  • 試験中に測り続けたい項目(抵抗値・絶縁抵抗・リーク電流など)と、故障の判定基準
  • 試料の数と、試験や分析のあとに試料を壊してよいか(断面観察などは破壊を伴う)

CONTACT

アイテスに問い合わせる

分析解析・信頼性評価の問い合わせは、専用のフォームで受け付けています。

電話:077-599-5020(分析解析・信頼性評価・品質技術 営業。受付 8:45〜17:30、土日祝を除く)/本社 077-599-5015

ボタンを押すとアイテスの公式サイトのお問い合わせフォームが開きます。ものづくり技術百科は問い合わせの内容を受け取りません。

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情報の確認日:2026年10月9日